Test/
        (ATE Àåºñ °æÇèÀÚ ¿ì´ë) 

           - ¹ÝµµÃ¼ ´ë±â¾÷

¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø

¤ýÁ¦Ç° Test Program °³¹ß ¹× Æ¯¼º Æò°¡

¤ý¾ç»ê Áغñ ¹× Issue ´ëÀÀ 
  (Low Yield ºÐ¼® , RMA, Claim, Escape µî)
¤ý¿ø°¡ °³¼±À» À§ÇÑ È°µ¿ 
  (Multi para È®Àå , Test Time Reduction µî)


ÀÚ°Ý¿ä°Ç 

¤ýÇз : 4³â ´ëÁ¹ÀÌ»ó

¤ýÀü°ø: ÀüÀÚ/Àü±â, ÄÄÇ»ÅÍ

¤ý°æ·Â : 4³â ÀÌ»ó(Çлç), 1 ³â ÀÌ»ó(¼®»ç)        


¿ì´ë»çÇ×

¤ýATE(Advantest ND3, ND4, V93K,T2K) Àåºñ »ç¿ë °æÇèÀÚ
¤ýDisplay Driver IC ¹× SoC Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ TEST °³¹ß °æÇèÀÚ
¤ýProgram Language (C,C++, Python,Perl,etc ) °¡´ÉÀÚ
¤ý¾îÇР´ÉÅëÀÚ (¿µ¾î/Áß±¹¾î) 


±âŸ»çÇ×

¤ýä¿ë±¸ºÐ: Á¤±ÔÁ÷

¤ý±Ù¹«Áö: ¼­¿ï °­³² º»»ç

¤ý¿¬ºÀ: ÃÖ»ó±Þ/ ¿ª·® ¿ì¼ö ÇϽŠºÐ¸¸ Áö¿ø °¡´É ÇÕ´Ï´Ù.  

¤ý¹®ÀÇ: ***-****-****/ ******@*******.*** 


1 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ¿¬ºÀ¹üÀ§

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾½É»ç > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

2022-05-19 (¸ñ) 23½Ã59ºÐ±îÁö

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® ä¿ë½Ã½ºÅÛ
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.