(ÁÖ)ƼÅõ½º
FAE, Å×½ºÆ®¿£Áö´Ï¾î ¿Ü ½ÅÀÔ/°æ·Â ä¿ë
¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç
¸ðÁýºÎ¹® | ´ã´ç¾÷¹« | ÀÚ°Ý¿ä°Ç | Àοø |
---|---|---|---|
¹ÝµµÃ¼ ¼³ºñ / EDA software ¿£Áö´Ï¾î |
[´ã´ç¾÷¹«] ¹ÝµµÃ¼ wafer test ¼³ºñ setup ¹× °í°´Áö¿ø , ¿µ¾î/Áß±¹¾î ´ÉÅëÀÚ ¿ì´ë [±Ù¹«ºÎ¼ ¹× Á÷±Þ/Á÷Ã¥]
|
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] °æ·Â»çÇ×: ½ÅÀÔ, °æ·Â(¿¬Â÷¹«°ü) [¿ì´ë»çÇ×] Àü°ø°è¿: °øÇÐ°è¿ |
3 ¸í |
±Ù¹«Á¶°Ç
ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼·ù
Á¢¼ö¹æ¹ý
2023-06-16 (±Ý) 23½Ã59ºÐ±îÁö
±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×
00