[´ë±â¾÷ ¹ÝµµÃ¼È¸»ç] 

SiC¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡(°æ·Â)

´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø

[´ã´ç¾÷¹«]

- SiC MOSFET ¼ÒÀÚ°³¹ß

- SiC MOSFET ¼ÒÀÚ Æ¯¼º Æò°¡ ¹× ºÐ¼®
- SiC MOSFET ¼ÒÀÚ & package Level

  Reliability test


[±Ù¹«ºÎ¼­ ¹× Á÷±Þ/Á÷Ã¥]

    Á÷±Þ/Á÷Ã¥: ÆÀ¿ø

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

[±Ù¹«Áö°æ±â ºÎõ or ÃæºÏ À½¼º

 

1 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ÇùÀÇÈÄ °áÁ¤

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > 1Â÷¸éÁ¢ > 2Â÷¸éÁ¢ > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Á¦Ãâ¼­·ù : À̷¼­(°æ·Â»çÇ×°ú ÀÚ±â¼Ò°³¼­ Æ÷ÇÔ)

Á¢¼ö¹æ¹ý

2023³â 12¿ù 04ÀÏ ~ ä¿ë½Ã ¸¶°¨

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: À̸ÞÀÏ(******@*******.***)
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ±¹¹®À̷¼­(MS Word ÆÄÀÏ)

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÁÁÀº ÀÏ Ã£À» ¶©, ÀÎÅ©·çÆ®

left;"="">ÇзÂ: ÇлçÀÌ»ó

°æ·Â: 7³âÀÌ»ó
Discrete Device design °æÇè
- Discrete device test & Reliability test °æÇè,

  Module test °æÇè


[¿ì´ë»çÇ×]

 MOSFET/IGBT °³¹ß °æ·ÂÀÚ (10³â ÀÌ»ó °æ·ÂÀÚ)

- SiC MOSFET °³¹ß/Æò°¡ °æÇèÀÚ