¤Ó Team ¼Ò°³

 "PEÆÀÀº °¢ÀÚ ¸ÃÀº ¾÷¹«´Â ÀÚÀ²ÀûÀ¸·Î ¼öÇàÇÏ°í, ¾÷¹«¿¡ µµ¿òÀÌ ÇÊ¿äÇÑ ºÎºÐÀº ÆÀ¿ø³¢¸® ¼­·Î Çù·ÂÇÏ°í ÀÖÀ¸¸ç, ÆÀÀÇ ÀÇ»ç °áÁ¤Àº ÆÀ¿ø ¸ðµÎÀÇ ÀÇ°ßÀ» ¼ö·ÅÇÏ´Â ¹®È­¸¦ ÁöÇâÇÕ´Ï´Ù."

 

 Product Engineering TeamÀº Wafer test, Package test, SLT (System Level Test)ÀÇ ¾ç»ê °ü¸® ¹× Á¦Ç°ÀÇ Ç°Áú Çâ»óÀ» À§ÇÑ ¾÷¹«¸¦ ¼öÇàÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.  Wafer/Package TestÀÇ yield °ü¸® ¹× °³¼±À» À§Çؼ­ FAB °øÁ¤ data ¹× test data¸¦ ºñ±³ ºÐ¼®Çϸç, Automotive Á¦Ç° Ç°Áú Çâ»óÀ» À§ÇØ AEC-Q100 Ç׸ñÀ» Àû¿ëÇÏ°í °ü¸®ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

 

 

¤Ó ´ã´ç ¾÷¹«

 

 

¤Ó Áö¿øÀÚ°Ý

[ Áö¿ø ÀÚ°Ý ]

 

[ ¿ì´ë »çÇ× ]

 

 

¤Ó ±Ù¹« Á¶°Ç ¹× ȯ°æ

 

 

¤Ó À¯ÀÇ»çÇ×