¢Â Ãßõȸ»ç ¼Ò°³
- ±¹³» À¯¸í ¿¢½º¼± °ü·Ã ÃøÁ¤Àåºñ¸¦ °³¹ß Á¦Á¶ Àü¹®È¸»ç
* ºñÆÄ±«ÀûÀ¸·Î Á߱ݼÓÇÔÀ¯¸¦ Á¤¼º/Á¤·®À¸·Î ºÐ¼®ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Àåºñ¸¦ ±¹»êÈÇϴµ¥ ¼º°øÇÏ¿© Á¦Á¶, ÆÇ¸ÅÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù
¢Â Æ÷Áö¼Ç- [°¼Ò±â¾÷]¹ÝµµÃ¼ Metrology Application Engineer/°úÀå-ÀÌ»ç±Þ
¢Â ´ã´ç ¾÷¹«: ÆÀ¿ø 7¸í
- ¹ÝµµÃ¼ Metrology Application Engineer
¢Â Requirement capability
- 4³âÁ¦ ´ëÁ¹ ÀÌ»óÀÚ(°ü·Ã Àü°ø ¼®.¹Ú»ç ÇÐÀ§ÀÚ ¿ì´ë)
- °æ·Â: ÇØ´ç Á÷¹« °æ·Â 5³â ~ 20³âÂ÷ ÀÌÇÏÀÚ
- XRF, XRD, XRR, OCD, Thickness À¯ °æÇèÀÚ
- ±¤ÇÐ(spectrum)ÀÌÇØÀÚ - ¹ÝµµÃ¼ metrology ÃøÁ¤ °ü¸® ÀÌÇØÀÚ
[¿ì´ë»çÇ×]
- XRF, XRR, XRD, ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ µî °³¹ß °æÇèÀÚ - ¿Ü±¹°è ȸ»ç°æ·Â ¹× ¿Ü±¹¾î ´É·Â
[±Ù¹«Áö]°æ±âµµ ȼº½Ã ¼ÒÀç
¢ÂÁ¦½Ã ¿¬ºÀ : °æ·Â¿¡ µû¶ó ÇùÀÇ(7,000¸¸¿ø -12,000¸¸¿ø ¼±)
<ÀüÇüÀýÂ÷>
- ¼·ùÀüÇü -¡í 1Â÷¸éÁ¢(ºÎ¼¸éÁ¢) -¡í 2Â÷¸éÁ¢(ÀÓ¿ø¸éÁ¢) -¡í ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
¢Â Á¦Ãâ¼·ù
- ±¹¹®À̷¼ ¹× ÀÚ±â¼Ò°³¼, °æ·Â±â¼ú¼(±¹¹®) 1 ÆÄÀÏ·Î Á¦Ãâ¿ä¸Á
- Æ÷ÅäÆú¸®¿À(ÇØ´çÀÚ¿¡ ÇÑÇÔ)
- À̷¼ Á¦Ãâ½Ã ÃÖÁ¾¿¬ºÀ,Èñ¸Á¿¬ºÀ Çʼö ±âÀç, ¹®¼À̸§Àº ¡°Áö¿øºÐ¾ß-¼º¸í¡±À¸·Î Ç¥±â
- °æ·Â±â¼ú¼ ÀÛ¼º½Ã º¸À¯±â¼ú ¹× °æÇèÁ÷¹«¿¡ ´ëÇØ¼ »ó¼¼ ±â¼ú ¿ä¸Á
¢Â Á¦Ãâ±âÇÑ ¹× ±Ù¹«°¡´ÉÀÏ : ASAP(ä¿ë½Ã ¸¶°¨)
¢Â Á¢¼ö¹æ¹ý ; [´ã´çÀÚ : ÀÓÁ¤¿ì º»ºÎÀå]
- e-mail Á¢¼ö : ******@*******.***
- Á¦Ãâ±âÇÑ : ¼±Âø¼ø E-mail Á¢¼ö ºÐ¿¡ ÇÑÇÕ´Ï´Ù.
- Àüȹ®ÀÇ : ***-****-**** / ***-****-****
- ÇÕ°ÝÅ뺸 : ÇÕ°ÝÀÚ¿¡ ÇÑÇÏ¿© °³º° ¿¬¶ôµå¸®¿À´Ï ¾çÇØ¹Ù¶ø´Ï´Ù.