¢Â Ãßõȸ»ç ¼Ò°³

±¹³» À¯¸í ¿¢½º¼± °ü·Ã ÃøÁ¤Àåºñ¸¦ °³¹ß Á¦Á¶ Àü¹®È¸»ç

ºñÆı«ÀûÀ¸·Î Á߱ݼÓÇÔÀ¯¸¦ Á¤¼º/Á¤·®À¸·Î ºÐ¼®ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Àåºñ¸¦ ±¹»êÈ­Çϴµ¥ ¼º°øÇÏ¿© Á¦Á¶, ÆǸÅÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù



 

 

¢Â Æ÷Áö¼Ç- [°­¼Ò±â¾÷]¹ÝµµÃ¼ Metrology Application Engineer/°úÀå-ÀÌ»ç±Þ


 

 

¢Â ´ã´ç ¾÷¹«: ÆÀ¿ø 7¸í

¹ÝµµÃ¼ Metrology Application Engineer


 

¢Â Requirement capability

- 4³âÁ¦ ´ëÁ¹ ÀÌ»óÀÚ(°ü·Ã Àü°ø ¼®.¹Ú»ç ÇÐÀ§ÀÚ ¿ì´ë)

- °æ·Â: ÇØ´ç Á÷¹« °æ·Â 5³â ~ 20³âÂ÷ ÀÌÇÏÀÚ

- XRF, XRD, XRR, OCD, Thickness À¯ °æÇèÀÚ 

- ±¤ÇÐ(spectrum)ÀÌÇØÀÚ - ¹ÝµµÃ¼ metrology ÃøÁ¤ °ü¸® ÀÌÇØÀÚ 




[¿ì´ë»çÇ×]

- XRF, XRR, XRD, ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ µî °³¹ß °æÇèÀÚ - ¿Ü±¹°è ȸ»ç°æ·Â ¹× ¿Ü±¹¾î ´É·Â 



 

 

[±Ù¹«Áö]°æ±âµµ È­¼º½Ã ¼ÒÀç


 

 

¢ÂÁ¦½Ã ¿¬ºÀ : °æ·Â¿¡ µû¶ó ÇùÀÇ(7,000¸¸¿ø -12,000¸¸¿ø ¼±) 


<ÀüÇüÀýÂ÷>

- ¼­·ùÀüÇü -¡í 1Â÷¸éÁ¢(ºÎ¼­¸éÁ¢) -¡í 2Â÷¸éÁ¢(ÀÓ¿ø¸éÁ¢) -¡í ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý 


 

¢Â Á¦Ãâ¼­·ù

  - ±¹¹®À̷¼­ ¹× ÀÚ±â¼Ò°³¼­, °æ·Â±â¼ú¼­(±¹¹®) 1 ÆÄÀÏ·Î Á¦Ãâ¿ä¸Á

  - Æ÷ÅäÆú¸®¿À(ÇØ´çÀÚ¿¡ ÇÑÇÔ)

  - À̷¼­ Á¦Ãâ½Ã ÃÖÁ¾¿¬ºÀ,Èñ¸Á¿¬ºÀ Çʼö ±âÀç, ¹®¼­À̸§Àº ¡°Áö¿øºÐ¾ß-¼º¸í¡±À¸·Î Ç¥±â

  - °æ·Â±â¼ú¼­ ÀÛ¼º½Ã º¸À¯±â¼ú ¹× °æÇèÁ÷¹«¿¡ ´ëÇؼ­ »ó¼¼ ±â¼ú ¿ä¸Á

 

 

¢Â Á¦Ãâ±âÇÑ ¹× ±Ù¹«°¡´ÉÀÏ : ASAP(ä¿ë½Ã ¸¶°¨)


 

¢Â Á¢¼ö¹æ¹ý ; [´ã´çÀÚ : ÀÓÁ¤¿ì º»ºÎÀå]

- e-mail Á¢¼ö : ******@*******.*** 

- Á¦Ãâ±âÇÑ : ¼±Âø¼ø E-mail Á¢¼ö ºÐ¿¡ ÇÑÇÕ´Ï´Ù.

- ÀüÈ­¹®ÀÇ : ***-****-**** / ***-****-****

- ÇÕ°ÝÅ뺸 : ÇÕ°ÝÀÚ¿¡ ÇÑÇÏ¿© °³º° ¿¬¶ôµå¸®¿À´Ï ¾çÇعٶø´Ï´Ù.