TEST Àåºñ±â¼ú-¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® ¼­ºñ½º ¸®µù ÄÄÆÛ´Ï



´ã´ç¾÷¹«

  • - ¹ÝµµÃ¼ TEST ¼³ºñ À¯Áöº¸¼ö ¿î¿µ
  • - TEST °øÁ¤ °ü¸® ¹× °³¼±
  • - ¼³ºñ »ç¾ç ±â¼ú °ËÅä
  • - Àåºñ¿î¿µ Áö¼ö Åë°è ¹× ºÐ¼®
  •  

ÀÚ°Ý¿ä°Ç

  • - ÇлçÀÌ»ó
  • - Àü±â, ÀüÀÚ, ±â°è, ¹ÝµµÃ¼ °ü·Ã Àü°ø°è¿­
  • - Wafer TEST Àåºñ°ü¸® ½Ç¹« °æÇè 10³â ÀÌ»óÀÚ
  • - Àη ¿î¿µ °æÇè
  • - Data Åë°è ºÐ¼® ¹× °ü¸® °æÇèÀÚ
  • - ÄÄÇ»ÅÍ È°¿ë ¹× ¹®¼­ÀÛ¼º ¿ª·® ¿ì¼öÀÚ
  • - ÄÚµù ´É·Â ¿ì¼öÀÚ
  • - 6½Ã±×¸¶, FMEA ÀÚ°ÝÁõ º¸À¯ÀÚ ¿ì´ë


±Ù¹«Á¶°Ç ¹× ȯ°æ

±Ù¹«ÇüÅÂ
Á¤±ÔÁ÷
±Ù¹«Áö¿ª
°æ±â ÆòÅà
±Þ¿©
¸éÁ¢ÈÄ °áÁ¤


ÀüÇüÀýÂ÷ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

ÀüÇüÀýÂ÷
- ¼­·ù ¹× ¸éÁ¢
Á¦Ãâ¼­·ù
- À̷¼­, °æ·Â Áß½ÉÀÇ ÀÚ±â¼Ò°³¼­
- À̸ÞÀÏ Á¢¼ö½Ã Á¦¸ñ¿¡ 'TEST Àåºñ±â¼ú-ÀÓÀçöÄÁ¼³ÅÏÆ®¾Õ' ¹Ýµå½Ã ¸í½Ã
- À̸ÞÀÏ : ******@*******.***



Á¢¼ö±â°£ ¹× ¹æ¹ý

Á¢¼ö±â°£
2024³â 6¿ù 5ÀÏ 24½Ã(ä¿ë½Ã ¸¶°¨)
À̷¼­ ¾ç½Ä ¹× Á¢¼ö¹æ¹ý
¹æ¹ý 1. ÀÎÅ©·çÆ® ¿Â¶óÀÎ À̷¼­ + ÀÎÅ©·çÆ® ÀÔ»çÁö¿ø  
¹æ¹ý 2. °³ÀÎÀ̷¼­ + À̸ÞÀÏ 




±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

ÀÔ»çÁö¿ø ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ¹ß°ßµÉ °æ¿ì, ä¿ëÈ®Á¤ ÀÌÈÄ¶óµµ Ã¤¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.