¹Ý¼®½áÄ¡(ÁÖ)

[Å×½½¶ó ÆÄÆ®³Ê ¹ÝµµÃ¼ »óÀå»ç] IC Å×½ºÆ® ¿£Áö´Ï¾î

¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¸ðÁýºÎ¹® ´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø
IC Å×½ºÆ® ¿£Áö´Ï¾î

[´ã´ç¾÷¹«]

Position: IC Å×½ºÆ® ¿£Áö´Ï¾î

[´ã´ç¾÷¹«]
1) IC Test Process ±â¼ú¾÷¹« ¼öÇà (¾ç»ê ±â¼ú °³¼±/°³¹ß µî)

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]
1) ÀüÀÚȸ·Î ÀÌ·Ð ¹× Çؼ® ¿ª·® º¸À¯
2) °æ·Â: 5³â~

[¿ì´ë¿ä°Ç]
- Maint Àåºñ ¿î¿ë °æ·Â/°æÇèÀÚ
¨ç Prober : (TEL»ç) T8XL / (EG»ç) EG-2001X, 4090 µî
¨è Tester : (Å׸£´ÙÀÎ) ETS-200 / (½ºÅ¸ÅØ) ETS-88, AMT-88
- µ¿Á¾¾÷ Ãâ½ÅÀÚ ¿ì´ë
- Àα٠°ÅÁÖ ¹× Áï½Ã Ãâ±Ù °¡´ÉÀÚ

[¼Ò¼ÓºÎ¼­]
Test񃬣G

[±Ù¹«Áö]
±¸¹Ì º»»ç(±â¼÷»ç)


#¹Ý¼®½áÄ¡ ÀÌ»ç #Á¤Àç¿í
***-****-****
******@*******.***
#õ¸®¸¶ÀÎÀç¼Ò°³¼Ò



[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

°æ·Â»çÇ×: °æ·Â(5³â ÀÌ»ó 15³â ÀÌÇÏ)
Çз»çÇ×: ´ëÇб³(4³â)Á¹¾÷
Á÷¹«±â¼ú: IC¼³°è, ¹ÝµµÃ¼, Å×½ºÆ®¿£Áö´Ï¾î, Å×½ºÅÍ


0 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ÇùÀÇ ÈÄ °áÁ¤

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾½É»ç > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

2024-11-12 (È­) 23½Ã59ºÐ±îÁö

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® ä¿ë½Ã½ºÅÛ
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

00