[±Û·Î¹ú ¹ÝµµÃ¼ ±â¾÷]
Yield Enhancement Engineer (MTS)
¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç
¸ðÁýºÎ¹® | ´ã´ç¾÷¹« | ÀÚ°Ý¿ä°Ç | Àοø |
---|---|---|---|
Yield Enhancement Engineer (MTS) |
[´ã´ç¾÷¹«] - Yield Enhancement (¼öÀ² Çâ»ó) ¸¦ ÅëÇØ ÀζóÀÎ ½ÇÆÐ ¸ðµå¸¦ ½Äº°ÇÏ¿© Probe ½ÇÆÐÀÇ ¿øÀÎÀ» ÆľÇÇÏ°í °íÀå ºÐ¼®À» ¼öÇà - ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶ ¶óÀÎ ³» ´ÙÀÌ °úÀ×(Die Overkilling) ºÐ·ù Æò°¡ ¹× ±âÁØ ÃÖÀûÈ - ÆíÂ÷¿¡ ´ëÇÑ ¸®½ºÅ© °ü¸® |
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] - Àü±âÀüÀÚ°øÇÐ, Àç·á°øÇÐ, ÈÇаøÇÐ ¶Ç´Â °ü·Ã ºÐ¾ßÀÇ ÇÐ»ç ¶Ç´Â ¼®»ç ÇÐÀ§ (¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¿ì´ë) - ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶ ¹× ¸®´õ½Ê °æÇè 4³â ÀÌ»ó (ƯÈ÷, °í±Þ ÆÐŰ¡±â¼ú°ú HBMÅëÇÕ¿¡ ÁßÁ¡À» µÐ °æ·Â) - ¸®´õ½Ê, ÆÀ¿÷, Á¶Á÷ ³»ºÎ/¿ÜºÎ °£ ¼ÒÅë, °¥µî Á¶À², Çù¾÷ ¿ª·® - ±Û·Î¹ú ÆÀ°ú ÇÔ²² ±¤¹üÀ§ÇÑ ±Û·Î¹ú À̴ϼÅƼºê¸¦ ÁÖµµÇÏ°í ½ÇÇà - ±³Â÷ ±â´É Á¶Á÷°ú Çù·ÂÇÏ¿© ¿ä±¸ »çÇ×À» ÀÌÇØÇÏ°í À̸¦ ½ÇÇà °¡´ÉÇÑ °èȹ, »êÃâ¹° ¹× ÀÚ¿ø ¿ä±¸ »çÇ×À¸·Î º¯È¯ - ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶¿¡¼ ±â¼úÀû ¸®´õ½ÊÀ» ¹ßÈÖÇÑ ÀÔÁõµÈ ½ÇÀû, °í±Þ ÆÐŰ¡ ±â¼ú, °øÁ¤ °³¹ß ¹×/¶Ç´Â Àåºñ °ü¸®¿¡ ´ëÇÑ Àü¹® Áö½Ä (PWF, ¹é¿£µå ¿£Áö´Ï¾î¸µ °øÁ¤, ¾î¼Àºí¸® ÆÐÅ°Áö ±â¼ú °³¹ß, ´ÙÀÌ(Die) ¹× ¿þÀÌÆÛ (Wafer) ¼öÁØ °øÁ¤ ±â¼ú¿¡ ´ëÇÑ Áö½Ä°ú CPI (Ĩ ÆÐÅ°Áö »óÈ£ÀÛ¿ë)¸¦ ÅëÇÑ È¸»çÀÇ ½Ç¸®ÄÜ(¹ÝµµÃ¼ Á¦Ç°)°úÀÇ »óÈ£ÀÛ¿ë ÀÌÇØ´Â ¿ì´ë»çÇ×ÀÓ) - ¼º°ú °³¼±, ºñÁî´Ï½º ÇÁ·Î¼¼½º »ý¼º, ÇÁ·Î¼¼½º ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ±â¼ú, µ¥ÀÌÅÍ Çؼ® ±â¼ú ¹× Åë°è ºÐ¼®/¹æ¹ý¿¡ ´ëÇÑ ´É¼÷ÇÔ¿¡ ´ëÇÑ ÀÔÁõµÈ ½ÇÀû - ºñÁî´Ï½º ¿µ¾î »ç¿ë °¡´ÉÀÚ |
0 ¸í |
±Ù¹«Á¶°Ç
ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼·ù
Á¢¼ö¹æ¹ý
ä¿ë½Ã
±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×
00