"PEÆÀÀº °¢ÀÚ ¸ÃÀº ¾÷¹«´Â ÀÚÀ²ÀûÀ¸·Î ¼öÇàÇÏ°í, ¾÷¹«¿¡ µµ¿òÀÌ ÇÊ¿äÇÑ ºÎºÐÀº ÆÀ¿ø³¢¸® ¼·Î Çù·ÂÇÏ°í ÀÖÀ¸¸ç, ÆÀÀÇ ÀÇ»ç °áÁ¤Àº ÆÀ¿ø ¸ðµÎÀÇ ÀÇ°ßÀ» ¼ö·ÅÇÏ´Â ¹®È¸¦ ÁöÇâÇÕ´Ï´Ù."
Product Engineering TeamÀº Wafer test, Package test, SLT (System Level Test)ÀÇ ¾ç»ê °ü¸® ¹× Á¦Ç°ÀÇ Ç°Áú Çâ»óÀ» À§ÇÑ ¾÷¹«¸¦ ¼öÇàÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. Wafer/Package TestÀÇ yield °ü¸® ¹× °³¼±À» À§Çؼ FAB °øÁ¤ data ¹× test data¸¦ ºñ±³ ºÐ¼®Çϸç, Automotive Á¦Ç° Ç°Áú Çâ»óÀ» À§ÇØ AEC-Q100 Ç׸ñÀ» Àû¿ëÇÏ°í °ü¸®ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
[ Áö¿ø ÀÚ°Ý ]
ÆÕ¸®½º, Test house µî ¹ÝµµÃ¼ test ºÐ¾ß¿¡¼ SoC Á¦Ç°ÀÇ Wafer/Package test ¿î¿µ ¾÷¹« 5³â ÀÌ»ó ½Ç¹«ÀÚ
¿Ü±¹¾î : ¿µ¾î (±âº»ÀûÀÎ ÀÇ»ç ¼ÒÅë °¡´É)
[ ¿ì´ë »çÇ× ]