SoC Á¦Ç° Test °æ·Â/
(5³â ÀÌ»ó~ )
- ¹ÝµµÃ¼ ´ë±â¾÷
¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç
¸ðÁýºÎ¹® | ´ã´ç¾÷¹« | ÀÚ°Ý¿ä°Ç | Àοø |
---|---|---|---|
SoC Á¦Ç° Wafer/ Package Test/ (5³â ÀÌ»ó~ ) |
[´ã´ç¾÷¹«] ¤ýWafer/Package ¾ç»ê test °ü¸® |
[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] ¤ýÇзÂ: 4³â Çлç ÀÌ»ó ¤ýÆÕ¸®½º, Test house µî ¹ÝµµÃ¼ Test ºÐ¾ß¿¡¼ ¤ý¿Ü±¹¾î : ¿µ¾î (±âº»ÀûÀÎ ÀÇ»ç ¼ÒÅë °¡´ÉÀÚ) [¿ì´ë»çÇ×] ¤ýSoC Á¦Ç° test ¾÷¹« °æ·ÂÀÚ ¤ý¿µ¾î È¸È ´ÉÅëÀÚ [±âŸ»çÇ×] ¤ýä¿ë±¸ºÐ: Á¤±ÔÁ÷ ¤ý¿¬ºÀ: ¸Å¿ì ÈíÁ·ÇÏ°Ô ÇùÀÇ/ ¿ª·® ¿ì¼öÇϽŠºÐ¸¸ |
0 ¸í |
±Ù¹«Á¶°Ç
ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼·ù
±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×