[´ë±â¾÷ ¹ÝµµÃ¼È¸»ç] 

Si Trench Capacitor(°æ·Â)


´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø

[´ã´ç¾÷¹«]

- Silicon Capacitor °øÁ¤ °³¹ß ¹× ¾ç»ê ´ëÀÀ

°ü·Ã Test Pattern ¼³°è ¹× Æò°¡
- Voltage domain GS Pixel 
¿ë In-Pixel HD

  MiM Cap. °øÁ¤ °³¹ß
- Capacitor Performance Characterization

  (Model & DA µî)


[±Ù¹«ºÎ¼­ ¹× Á÷±Þ/Á÷Ã¥]

    Á÷±Þ/Á÷Ã¥: ÆÀ¿ø

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

- DRAM °øÁ¤°³¹ß °æ·Â: 4³âÀÌ»ó(¼®»ç), 6³âÀÌ»ó(Çлç)

 high-k ALD °øÁ¤ À¯°æÇèÀÚ

 

[¿ì´ë»çÇ×]
- DRAM Capacitor °øÁ¤ ¼³°è ¹× °³¹ß À¯°æÇèÀÚ

- DRAM ¼ÒÀÚ Characterization Àü¹®°¡


[±Ù¹«Áö] °æ±â ºÎõ

 

1 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ÇùÀÇÈÄ °áÁ¤

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > 1Â÷¸éÁ¢ > 2Â÷¸éÁ¢ > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Á¦Ãâ¼­·ù : À̷¼­(°æ·Â»çÇ×°ú ÀÚ±â¼Ò°³¼­ Æ÷ÇÔ)

Á¢¼ö¹æ¹ý

2025³â 04¿ù 11ÀÏ ~ ä¿ë½Ã ¸¶°¨

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: À̸ÞÀÏ(******@*******.***)
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ±¹¹®À̷¼­(MS Word ÆÄÀÏ)

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÁÁÀº ÀÏ Ã£À» ¶©, ÀÎÅ©·çÆ®