¹Ý¼®½áÄ¡(ÁÖ)

[Å×½½¶ó ÆÄÆ®³Ê ¹ÝµµÃ¼ »óÀå»ç] MOSFET °³¹ß(H/V, M/V)

¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¸ðÁýºÎ¹® ´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø
MOSFET °³¹ß

[´ã´ç¾÷¹«]

Position:MOSFET °³¹ß(M/V, H/V)
*M/V, H/V-°¢ 1¸í

[´ã´ç¾÷¹«]
1) MOSFET Cell & Ring Design
2) Test pattern ¼³°è ¹× Layout
3) Static & Dynamic Test ¹× Characterization

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]
1) ´ëÁ¹ Çлç ÀÌ»ó
2) Àü±â/ÀüÀÚ°øÇÐ ¹× ¹ÝµµÃ¼ °ü·Ã Àü°øÀÚ
3) Power Device Á¦Ç° °³¹ß °æ·Â
5) °æ·Â: 3³â~

[¼Ò¼ÓºÎ¼­]
°³¹ßÆÀ

[±Ù¹«Áö]
¼­¿ï ¼­Ãʱ¸


#¹Ý¼®½áÄ¡ ÀÌ»ç #Á¤Àç¿í
***-****-****
******@*******.***
#õ¸®¸¶ÀÎÀç¼Ò°³¼Ò

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

°æ·Â: °æ·Â 3³â¡è
ÇзÂ: ´ëÁ¹
Á÷¹«±â¼ú: MOS, ¹ÝµµÃ¼


0 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ȸ»ç³»±Ô

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾½É»ç > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

2025-07-05 (Åä) 23½Ã59ºÐ±îÁö

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® Á¢¼ö
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

00