[Á÷¹«³»¿ë]

Probe Card »ý»ê [¼³ºñÁ÷±º]
- Bonding¼³ºñ Operator
- ProbeCard Rebonding
- ProbePin ¹è¿­/ÁغñÀÛ¾÷

Probe Pin »ý»ê [MEMSÁ÷±º]
- ProbePin EP (Àü±âµµ±Ý)
- ProbePin Lapping (Wafer Æòźȭ)
- ProbePin PQC (PinÆò°¡TEST)

ProbeCard CS [CSÁ÷±º]
- ProbeCard ¼ö¸®




[±Ù¹«½Ã°£ ¹× ÇüÅÂ]


ÁÖ 5ÀÏ ±Ù¹«





(±Ù¹«½Ã°£) (¿ÀÀü) 8½Ã 30ºÐ ~ (¿ÀÈÄ) 5½Ã 30ºÐ




ÁÖ¼ÒÁ¤±Ù·Î½Ã°£ : 40½Ã°£





[±Þ¿©Á¶°Ç]

- ¿¬ºÀ
31000000¿ø ÀÌ»ó



- »ó¿©±Ý : 0%

(¹Ì Æ÷ÇÔ)















[ÀڰݸéÇã]

- ÀüÀÚ±â±â±â´É»ç

- Àü±â±â±â±â´É»çº¸










[Àå¾ÖÀÎä¿ëÈñ¸Á¿©ºÎ]






ºñÈñ¸Á







[º´¿ªÆ¯·Ê]


Èñ¸Á(


°øÀͱٹ«¿ä¿ø ¼ÒÁý´ë»ó º¸Ã濪
)










[±âŸ ¿ì´ë³»¿ë]

- Àα٠°ÅÁÖÀÚ
- ¹æÁøº¹ Âø¿ë °¡´ÉÀÚ
- À¯°ü¾÷¹« °æ·ÂÀÚ
- µ¿Á¾¾÷°è °æ·ÂÀÚ