[¹ÝµµÃ¼¼³°è ±â¾÷] Device/Process ¿£Áö´Ï¾î
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- Test Pattern ¹× ESD cell Á¦ÀÛ
- Á¦Ç° °³¹ß Áö¿ø
- Ãʱ⠰øÁ¤ ºÒ·® ºÐ¼®/°³¼±
- °æÀï»ç Á¦Ç° °øÁ¤ ºÐ¼®
- Magwel simulation
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- Çлç ÀÌ»ó
- °æ·Â 5³â ~ 20³â
- Foundry °æ·Â Çʼö (BCD Process °³¹ß °æ·Â ¿ì´ë)
- ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡ ´ëÇÑ Àü¹ÝÀûÀÎ Áö½Ä
- ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ ±¸Á¶ ¹× µ¿ÀÛ ¿ø¸®¿¡ ´ëÇÑ ÀÌÇØ (LDMOS, BJT, ESD)
- PDK¿¡ ´ëÇÑ Àü¹ÝÀû ÀÌÇØ
- Cadence layout & TCAD °¡´ÉÀÚ
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