[Á÷¹«³»¿ë]
´ç»ç´Â ÃÖ°íÀÇ ±â¼ú·ÂÀ» ¹ÙÅÁÀ¸·Î »ï¼ºÀüÀÚ µî ÃÖ÷´Ü ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ¼Ö·ç¼ÇÀ» Á¦°øÇϸç Áö¼ÓÀûÀÎ ¸ÅÃâ ¼ºÀåÀ» ±â·ÏÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ¿¡ »ý»ê´É·Â È®ÀåÀ» ÅëÇÑ Â÷¼¼´ë Á¦Ç°À» ÇÔ²² ¸¸µé¾î °¥ Á÷¿øÀ» ¸ð½Ê´Ï´Ù. ÇʼöÁ¶°Ç : ¹ÝµµÃ¼ ¼³ºñ Operation/ǰÁú °Ë»ç¿ø ¾÷¹« ¼öÇà °¡´ÉÀÚ, °íµîÇб³ Á¹¾÷ ÀÌ»óÀÎÀÚ ±Ù¹«ÇüÅ : 3Á¶ 2±³´ë ±Ù¹«(5±Ù2ÈÞ) ½ºÄÉÁìÇ¥±Ù¹«/1ÁÖÀÏ´ÜÀ§ ±³´ë(¹æÁøº¹ Âø¿ë) -Day(06:00~14:00)/Swing(14:00~22:00)/GY(22:00~ÀÍÀÏ06:00)/Day2(06:00~18:00)/GY2(18:00~ÀÍÀÏ06:00) ¿ì´ëÁ¶°Ç : ¹ÝµµÃ¼ ÈİøÁ¤ Operator °æÇèÀÚ ¿ì´ë ¡¤ Front °øÁ¤: Back Lab, Saw, Die Attectch, Wire Bonding ¡¤ Back-end °øÁ¤: Marking/Solder ball/Saw Sorter/Mold, SMT ¡¤ Chip Final Test °øÁ¤ ¡¤ Bump °øÁ¤: Wafer Back Grinding, Laser Grooving, Wafer Saw, Plating, Sputter/Desum, Photo °øÁ¤ ¡¤ DPS °øÁ¤: BSC/Marking, PnP, Packing, SAW, WBG °øÁ¤ ¡¤ EDS Wafer Test °øÁ¤ - ¹ÝµµÃ¼ ÈİøÁ¤ ǰÁú°Ë»ç¿ø °æÇèÀÚ ¿ì´ë ¡¤ Inprocess ǰÁú ¸ð´ÏÅ͸µ ¾÷¹«(¼öÀÔ°Ë»ç/ÃâÇϰ˻ç, CCS, ¼øÈ¸°Ë»ç) ¡¤ º¯°æÁ¡, ¾ç»êÁ¦Ç° ¸ð´ÏÅ͸µ, ½ÅÁ¦Ç° °Ë»ç µî 3°³¿ù ¼ö½À±â°£ ¿î¿µ ¹× °¢Á¾ º¹¸® ÈÄ»ý Á¦°ø -µ¿È£È¸ ¿î¿µ(Ȱµ¿ºñ Áö¿ø), ÈÞ¾çÄܵµ(Èִнº, ÇÑÈ, ¸®¼Ø)Áö¿ø -Á¾ÇÕ°ËÁø ¹× °Ç°°ËÁø, ´Üüº¸Çè °¡ÀÔ -»ç¿ìȸ/»ç³»±Ù·Îº¹Áö±â±Ý¿î¿µ(Àå·ÊºñǰÁö¿ø) -¿ì¼ö»ç¿ø ¹× Àå±â±Ù¼Ó ½Ã»óÁ¦µµ -Á¦ÈÞ¾÷ü ÇÒÀÎ, »ç³»ÇコÀå ¿î¿µ -°æÁ¶»ç Áö¿ø(ÈÞ°¡ °æÁ¶±Ý), ±â³äÀϼ±¹°(¸íÀý, ⸳±â³äÀÏ, »ýÀÏ) Áö¿ø¹æ¹ý : ¿öÅ©³Ý Áö¿ø(À̷¼ »çÁøºÎÂø, ÇзÂ, °æ·Â ÇöÇàÈ, ÀÚ±â¼Ò°³¼ ÀÛ¼º) ¿öÅ©³Ý ÀÔ»çÁö¿ø¼·ùÀüÇü ÈÄ ¸éÁ¢ ´ë»óÀÚ(ÇÕ°ÝÀÚ)¿¡ ÇÑÇÏ¿© °³º° Å뺸 ¿¹Á¤ ¹®ÀÇ»çÇ×: õ¾È°í¿ë¼¾ÅÍ
***-****-**** [±Ù¹«½Ã°£ ¹× ÇüÅÂ]
ÁÖ 5ÀÏ ±Ù¹«
3Á¶ 2±³´ë ±Ù¹«(5±Ù2ÈÞ) ½ºÄÉÁìÇ¥±Ù¹« -Day(06:00~14:00)/Swing(14:00~22:00)/GY(22:00~ÀÍÀÏ06:00)/Day2(06:00~18:00)/GY2(18:00~ÀÍÀÏ06:00)
ÁÖ¼ÒÁ¤±Ù·Î½Ã°£ : 40½Ã°£
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