2008³â â¾÷ ÀÌ·¡ Â÷º°ÈµÈ ÀÚü ±â¼úÀ» ±â¹ÝÀ¸·Î ÇÁ¸®¹Ì¾ö µð½ºÇ÷¹ÀÌ ¼Ö·ç¼Ç°ú
Â÷¼¼´ë ¾Æ³¯·Î±× ¹ÝµµÃ¼ÀÇ »õ·Î¿î ÁöÆòÀ» °³Ã´Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
¹ÝµµÃ¼ Test Program °³¹ß ¹× ¾ç»ê ÀÎÀç ä¿ë
¸ðÁý ºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý ¿ä°Ç
¸ðÁý ºÎ¹® | ´ã´ç ¾÷¹« | ÀÚ°Ý ¿ä°Ç | Àοø |
---|---|---|---|
¹ÝµµÃ¼ Test Program °³¹ß ¹× ¾ç»ê |
[´ã´ç ¾÷¹«] • System IC Test Program °³¹ß |
[ÀÚ°Ý ¿ä°Ç] °æ·Â: ½ÅÀÔ/°æ·Â ~ 3³â (½ÅÀÔ Áö¿ø °¡´É)
• ÀüÀÚ °ü·Ã Çаú Àü°ø | 1 ¸í |
±Ù¹« Á¶°Ç
ÀüÇü ´Ü°è ¹× Á¦Ãâ ¼·ù
Á¢¼ö ¹æ¹ý
±âŸ À¯ÀÇ »çÇ×
00