2008³â â¾÷ ÀÌ·¡ Â÷º°È­µÈ ÀÚü ±â¼úÀ» ±â¹ÝÀ¸·Î ÇÁ¸®¹Ì¾ö µð½ºÇ÷¹ÀÌ ¼Ö·ç¼Ç°ú
Â÷¼¼´ë ¾Æ³¯·Î±× ¹ÝµµÃ¼ÀÇ »õ·Î¿î ÁöÆòÀ» °³Ã´Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù. 

¹ÝµµÃ¼ Test Program °³¹ß ¹× ¾ç»ê ÀÎÀç ä¿ë

¸ðÁý ºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý ¿ä°Ç

¸ðÁý ºÎ¹® ´ã´ç ¾÷¹« ÀÚ°Ý ¿ä°Ç Àοø

¹ÝµµÃ¼ 

Test 

Program 

°³¹ß ¹× 

¾ç»ê

[´ã´ç ¾÷¹«]

• System IC Test Program °³¹ß
- ´ë»ó: LED Driver IC, Mixed sigtnal IC µî
- Àåºñ: Advantest, Teradyne, Accotest µî ATE ±â¹Ý °³¹ß

• ¾ç»ê Å×½ºÆ® ¼Â¾÷ ¹× ÃÖÀûÈ­
- Fail bin ºÐ¼®, ¼öÀ² °³¼±
- Ãʱ⠾ç»ê ´ëÀÀ ¹× °í°´ Çǵå¹é ó¸®

• Å×½ºÆ® °á°ú ¹®¼­È­ ¹× ±â¼ú Áö¿ø
- Test Spec, Debug Report, °í°´ ´ëÀÀ¹®¼­ ÀÛ¼º

• ºÒ·® ºÐ¼® ¹× ¿øÀÎ ±Ô¸í
- IC ³»ºÎ µ¿ÀÛ/Àü¿ø/ȸ·Î ºÐ¼® ±â¹Ý °³¼± Ȱµ¿
- ³»ºÎ Çù¾÷ (QA ¹× ¼³°èÆÀ)

[ÀÚ°Ý ¿ä°Ç]

°æ·Â: ½ÅÀÔ/°æ·Â ~ 3³â (½ÅÀÔ Áö¿ø °¡´É)
ÇзÂ: ´ëÁ¹(4³â) ÀÌ»ó
¿Ü±¹¾î: Áß±¹¾î ´ÉÅëÀÚ 


[¿ì´ë »çÇ×]

• ÀüÀÚ °ü·Ã Çаú Àü°ø
• System IC Å×½ºÆ® °³¹ß ¹× ¾ç»ê °æÇèÀÚ


1 ¸í

±Ù¹« Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷(¼ö½À±â°£ 3°³¿ù)
  • ¿¬ºÀ: ȸ»ç³»±Ô(¸éÁ¢ ÈÄ ÇùÀÇ)
  • ±Ù¹«Áö: °æ±âµµ È­¼º½Ã µ¿Åº´ë·Î

ÀüÇü ´Ü°è ¹× Á¦Ãâ ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö ¹æ¹ý

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® Á¢¼ö
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

±âŸ À¯ÀÇ »çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

00