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Application Engineer °æ·Â ä¿ë

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Appli-

cation

Engineer

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¡á °í°´ ¿ä±¸ »çÇ× ¼öÁý¡¤»ç¾ç Á¤ÀÇ ¹× Wafer Test °øÁ¤ ÃÖÀûÈ­ Áö¿ø
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ÇзÂ: ÃÊ´ëÁ¹ ÀÌ»ó

[ÀÚ°Ý ¿ä°Ç]

¡á Memory Test À¯°æÇèÀÚ(Wafer Memory Test preference)

Wafer Test or Final Test Process ÀÌÇØ

ATE µ¿ÀÛ¿ø¸® ÀÌÇØ (Tester & Prober)

¡á Probe card °ü·Ã ¾÷¹« À¯°æÇèÀÚ(Application, Customer Service, Sales or Design)

Probe cardÀÇ ±¸Á¶, Á¾·ù ÀÌÇØ

Probe cardÀÇ Àü±âÀû Ư¼º ÀÌÇØ (Impedance, Crosstalk, Transmission line)

¡á Áß±¹¾î ȸȭ °¡´ÉÀÚ (Technical communication with customer)

¡á MS office »ç¿ë °¡´ÉÀÚ (Excel, Power Point µî) 


[¿ì´ë »çÇ×]

¡á OA(¿öµå ÇÁ·Î¼¼¼­, ½ºÇÁ·¹µå ½ÃÆ®, ÇÁ¸®Á¨Å×ÀÌ¼Ç µî) °ü·Ã ÇÁ·Î±×·¥ »ç¿ë ´É·Â º¸À¯ÀÚ

¡á ÆÀ üÁ¦¿¡¼­ÀÇ Ä¿¹Â´ÏÄÉÀÌ¼Ç ½ºÅ³ ´É·ÂÀ» º¸À¯ÇÑ ÀÚ

¡á Á¤È®ÇÏ°Ô ÀÏ Ã³¸®¸¦ ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ²Ä²ÄÇÑ ¼ºÇâÀ» °®Ãá ÀÚ

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  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ȸ»ç³»±Ô(°æ¿µ¼º°ú±Þ º°µµ Áö±Þ) 
  • ±Ù¹«Áö: ÃæÃ»³²µµ õ¾È½Ã ¼­ºÏ±¸ Á÷»êÀ¾ ±º¼ö 1±æ(±â¼÷»ç Á¦°ø)

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ù ÀüÇü > ¸éÁ¢ ÁøÇà > 2Â÷¸éÁ¢ ÁøÇà > ÃÖÁ¾ ÇÕ°Ý
  • Á¦Ãâ¼­·ù: À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® Á¢¼ö
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

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  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

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