Wafer/Package ¾ç»ê test °ü¸®ÀÚ/
                      (3~ 8³â)
               - ¹ÝµµÃ¼(ÄÚ½º´Ú)

¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¸ðÁýºÎ¹® ´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø

Wafer/Package ¾ç»ê test °ü¸®ÀÚ/

(3~ 8³â)

[´ã´ç¾÷¹«]

¤ýWafer/Package ¾ç»ê test °ü¸®

- Test ǰÁú °³¼±, Test Program °ü¸®, Àú¼öÀ² ºÐ¼® ¹× °³¼±, ¾ç»ê abnormal lot ºÐ¼® ¹× ó¸® µî

¤ýTest ºñ¿ë Àý°¨

¤ýAutomotive Quality control

¤ýWafer/Package data Åë°èÀû ºÐ¼®



[ÀÚ°Ý¿ä°Ç] 

¤ýÆÕ¸®½º, Test house µî ¹ÝµµÃ¼ test ºÐ¾ß¿¡¼­ 

SoC Á¦Ç°ÀÇ Wafer/Package test ¿î¿µ 3³â ÀÌ»ó ½Ç¹«ÀÚ

¤ýºñÁî´Ï½º ¿µ¾î °¡´ÉÀÚ


[¿ì´ë»çÇ×]

¤ýSoC Á¦Ç° test ¾÷¹« °æ·ÂÀÚ¤ý¿µ¾î ȸȭ ´ÉÅëÀÚ

[±âŸ»çÇ×]

¤ýä¿ë±¸ºÐ: Á¤±ÔÁ÷
¤ý±Ù¹«Áö: ºÐ´ç

¤ý¿¬ºÀ: ÈíÁ·ÇÏ°Ô ÇùÀÇ/ ¿ª·® ¿ì¼öÇϽŠºÐ¸¸
¤ý¹®ÀÇ:  ***-****-**********@*******.***


0 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ÇùÀÇ ÈÄ °áÁ¤

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾½É»ç > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® ä¿ë½Ã½ºÅÛ
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­, ÀÚ»ç¾ç½Ä, ÀÚÀ¯¾ç½Ä

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.