±ÂÄ¿¸®¾î

Application Engineer 

(¸ÅÃâ 5000¾ï, ÄÚ½º´Ú ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ Á¦Á¶»ç)

¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¸ðÁýºÎ¹® ´ã´ç¾÷¹« ÀÚ°Ý¿ä°Ç Àοø

Application

Engineer

[´ã´ç¾÷¹«]

Application Engineer (¸ÅÃâ 5000¾ï, ÄÚ½º´Ú ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ Á¦Á¶»ç)

Á÷¹«³»¿ë
- Probe Card °³¹ß ¹× ¼³°è °ËÅä °æÇè
- Device ¾÷ü Wafer Test °ü·Ã ¾÷¹« °æÇè
- °í°´»ç ³» ½Å±Ô Probe Card Set-up ¹× À̽´ Debugging

¿ì´ë»çÇ×
- ¿Ü±¹¾î ´É·ÂÀÚ ¿ì´ë (¿µ¾î Áß±¹¾î)

¡à ±Ù¹«Áö : õ¾È


[±Ù¹«ºÎ¼­ ¹× Á÷±Þ/Á÷Ã¥]

    Á÷±Þ/Á÷Ã¥: °úÀå, Â÷Àå, ÆÀÀå

[ÀÚ°Ý¿ä°Ç]

°æ·Â: °æ·Â 8~20³â
ÇзÂ: ´ëÁ¹
Á÷¹«±â¼ú: ¹ÝµµÃ¼ºÎǰ, ¹ÝµµÃ¼Àåºñ, ¹ÝµµÃ¼ ÆÐŰ¡ ÈİøÁ¤


0 ¸í

±Ù¹«Á¶°Ç

  • °í¿ëÇüÅÂ: Á¤±ÔÁ÷(¼ö½À±â°£0°³¿ù)
  • ±Þ¿©Á¶°Ç: ¿¬ºÀ ÁÖ40½Ã°£, 6000~9000¸¸¿ø

ÀüÇü´Ü°è ¹× Á¦Ãâ¼­·ù

  • ÀüÇü´Ü°è: ¼­·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÁøÇà > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý
  • Ãß°¡ Á¦Ãâ¼­·ù
    À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­

Á¢¼ö¹æ¹ý

  • Á¢¼ö¹æ¹ý: ÀÎÅ©·çÆ® Á¢¼ö
  • Á¢¼ö¾ç½Ä: ÀÎÅ©·çÆ® À̷¼­

±âŸ À¯ÀÇ»çÇ×

  • ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× Á¦Ãâ¼­·ù¿¡ ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖÀ» °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

00