ÀÌ·± ÀÏÀ» ÇÕ´Ï´Ù.

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SiC Àü·Â ¹ÝµµÃ¼ Wafer/PKG level ½Å·Ú¼º Æò°¡ ¹× °ËÁõ
  • ±¹Á¦ Ç¥ÁØ(JEDEC, AEC-Q101, AQG-324 µî) ±â¹Ý Æò°¡ Ç׸ñ ¹× ±âÁØ ¼ö¸³
  • ½Å±Ô Á¦Ç° ÀÎÁõ ¹× ¾ç»ê Á¦Ç° ORT(Ongoing Reliability Test) ¼öÇà
  • ½Å·Ú¼º Æò°¡ µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼® ¹× °á°ú º¸°í¼­ ÀÛ¼º
  • ½Å·Ú¼º ºÒ·® ¿øÀÎ ºÐ¼® ¹× ǰÁú °³¼± Ȱµ¿ Áö¿ø

ÀÌ·± ºÐ°ú ÇÔ²² ÇÏ°í ½Í½À´Ï´Ù.

Áö¿øÀÚ°Ý
¼®»ç ÇÐÀ§ÀÌ»ó (SiC ¹× GaN °ü·Ã Lab)
    ¿µ¾î ±â¼ú ¹®¼­ ÀÛ¼º ¹× ¿µ¾îȸȭ °¡´ÉÀÚ

      ÀÌ·± °æÇèÀÌ ÀÖ´Ù¸é ´õ ȯ¿µÇÕ´Ï´Ù.

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      Åë°èºÐ¼® µµ±¸(JMP, Minitab µî) Ȱ¿ë °¡´ÉÀÚ
        Åë°èºÐ¼® µµ±¸(JMP, Minitab µî) Ȱ¿ë °¡´ÉÀÚ Â÷·®¿ë Àü·Â ¹ÝµµÃ¼ ½Å·Ú¼º Æò°¡ À¯°æÇèÀÚ
          SiC Àü·Â ¹ÝµµÃ¼ Wafer/PKG level ½Å·Ú¼º Æò°¡ ¿ª·® º¸À¯ÀÚ

            ÀÌ·¯ÇÑ ¿©Á¤À¸·Î ÁøÇàµË´Ï´Ù.

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            ¼­·ùÀüÇü > ÇʱâÀüÇü(SKCT) >¸éÁ¢ÀüÇü > °Ç°­°ËÁø > ÀÔ»ç
            • ¸ðÁý ºÎ¹® º°·Î ÀüÇü ÀýÂ÷°¡ º¯°æ ¹× Ãß°¡µÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

            ¹Ì¸® È®ÀÎÇØ ÁÖ¼¼¿ä.

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              ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ¹× ÀÚ°Ý»çÇ×ÀÌ »ç½Ç°ú ´Ù¸£°Å³ª ºÎÁ¤ÇàÀ§°¡ ¹ß°ßµÇ´Â °æ¿ì ÇÕ°Ý ¹× ÀԻ簡 Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
                ÀÔ»çÁö¿ø¼­³ª °¢Á¾ ¼­·ù¿¡ ŸÀÎÀÇ ¿µ¾÷ºñ¹ÐÀ̳ª ¿µ¾÷ºñ¹Ð Ä§ÇØ·Î ¿ÀÀÎ ³»Áö ¿ì·ÁµÉ ¸¸ÇÑ »çÇ×ÀÌ ÀÖ´ÂÁö ¹Ýµå½Ã È®ÀÎÇϽŠÈÄ ÃÖÁ¾ Á¦ÃâÇÏ¿© Áֽñ⠹ٶø´Ï´Ù.
                  º¸ÈÆ´ë»óÀÚ ¹× Àå¾ÖÀÎÀÇ °æ¿ì °ü·Ã ¹ý·É¿¡ ÀǰÅÇÏ¿© ¿ì´ëÇÕ´Ï´Ù.