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SiC Àü·Â ¹ÝµµÃ¼ Wafer/PKG level ½Å·Ú¼º Æò°¡ ¹× °ËÁõ
  • ±¹Á¦ Ç¥ÁØ(JEDEC, AEC-Q101, AQG-324 µî) ±â¹Ý Æò°¡ Ç׸ñ ¹× ±âÁØ ¼ö¸³
  • ½Å±Ô Á¦Ç° ÀÎÁõ ¹× ¾ç»ê Á¦Ç° ORT(Ongoing Reliability Test) ¼öÇà
  • ½Å·Ú¼º Æò°¡ µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼® ¹× °á°ú º¸°í¼­ ÀÛ¼º
  • ½Å·Ú¼º ºÒ·® ¿øÀÎ ºÐ¼® ¹× ǰÁú °³¼± Ȱµ¿ Áö¿ø

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  • ¹Ú»ç(¶Ç´Â ¼ö·á/Á¹¾÷ ¿¹Á¤ÀÚ) : Àü·Â ¹ÝµµÃ¼(SiC/GaN) °æÇè º¸À¯ÀÚ (¡Ø ½ÅÀÔ °¡´É)
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